微波暗室

微波暗室
    微波暗室主要用于對待測件的輻射或散射性能進行檢測，主要分為遠場暗室（含緊縮場，緊縮場主要用于RCS檢測）、平面近場暗室、柱面近場暗室及球面近場暗室。一般大型雷達天線均采用近場測試，寬波速天線一般采用球面近場和柱面近場測試，隨著對測試要求的提高，多功能暗室（含近場、遠場及EMC測試與一體）的需求逐步擴大。
    通過項目建設提供一個對受試設備進行電磁兼容測試所需的電磁環境和測試條件，能有效地消除外來電磁波的干擾和各種反射干擾，以獲得可靠、規范的測試數據，主要目的是進行輻射發射和抗擾度的符合性測試。
引用標準：
 GB50826-2012        《電磁波暗室工程技術規范》
 GB/T12190-2006     《電磁屏蔽室屏蔽效能的測量方法》
 GB/T50719-2011     《電磁屏蔽室工程技術規范》
 GB50017—2003      《鋼結構設計規范》
 GB50009—2012      《建筑結構荷載規范》
 GB50205—2001      《鋼結構工程施工質量驗收規范》
 GB50034-2013        《建筑照明設計規范》
 GB50052-2009        《供配電系統設計規范》
 GB50019-2015        《工業建筑供暖通風與空氣調節設計規范》
 GB50116-2013        《火災自動報警系統設計規范》
 GB4717-2015          《火災報警控制器》
 GB50016-2010        《建筑設計防火規范》
 GB50057-2010        《建筑物防雷設計規范》
 GB/T2406-93          《塑料燃燒性能試驗方法氧指數法》
 GB8624-2012         《建筑材料及制品燃燒性能分級》
 GJB6780-2009        《微波暗室性能測試方法》
 GJB5239-2004        《射頻吸波材料吸波性能測試方法》

微波暗室性能要求
微波暗室性能由獨立的第三方機構進行測試，主要測試指標有屏蔽效能、靜區性能、場均運行、交叉極化電平等。
屏蔽效能指標：滿足EN50147-1，GB/T 12190-2006標準。

靜區性能有待測件及測試要求決定，影響待測件的測量精度。
均勻場性包括縱向場幅均勻性，一般≤±2dB
                    橫向場幅均勻性，一般≤±0.25dB
                    交叉極化電平，一般≤25dB
微波暗室規格
平面近場：可測試體積大、窄波速的雷達天線。
柱面近場：可測試寬波速大天線。
球面近場：寬波速三維方向圖測試，如普通基站天線、5G天線等。
緊縮場：可進行隱身特性測試及遠場測試。
普通遠場：主要針對不太大的待測件測試。
仿真暗室：仿真目標特性測量。

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